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硅材料复合测试仪 硅材料复合检测仪

更新时间:2017-12-12  |  点击率:833
产品名称:硅材料复合测试仪 硅材料复合检测仪
产品型号:SZT-5

硅材料复合测试仪/硅材料复合检测仪型号:SZT-5

SZT-5硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的 
1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率 
在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整,可以对某些测量结果进行修整,例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数,对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。 
SZT数字式四探针测试仪,体形小巧,操作方便,量程适中,十分适於对重炼回料的分选。 
2,整流法硅材料P-N性判别仪,配有三针手持式探头,能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行性判别 
     本仪器工作环境条件为: 
        温  度:18℃―25℃ 
            相对湿度:50%-70% 
      工作室内应无强电场干扰,不与高频设备共用电源。 
二,技术参数 
1,测量范围 
(1)电阻率测量: 
      电 阻 率        0.01-200Ω-cm 
方块电阻        0.01-200Ω-口 
电    阻        0.01-200.0Ω 



2,数字电压表   
      (1)量    程 :       200mV单一量程 
      (2)误    差:      读数 ±0.2%±3字 
(3)输入电阻 :      >10MΩ 
3,恒 流 源 
      (1)电流输出               0~10mA连续可调 
      (2)量    程             1mA, 10mA 
      (3)误     差             ±0.2%±3字, 
4,手持式四探针测试头 
(a)探  针  间  距::      1mm 
  (b)探针机械游移率:      ±1.0% 
  (c)探  针  材  料:      碳化钨,φ0. 
(d)压力:  zui大 2Kg 
(2)导电类型判别: 
可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于”重掺”。

 

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