金属钨的逸出功测定仪

金属钨的逸出功测定仪 型号： WY-Ⅰ  
用途和目的： 
* 了解理想二管的结构和工作原理； 
* 用里查孙直线测定金属材料电子逸出功eΨ（或逸出电位Ψ）； 
* 设计性扩展实验测定电子荷质比。 
技术参数及特点： 
* 理想二管 
材料：纯钨丝 
阳电压：DC 0～150V 
灯丝电流：DC 0.5～0.7 
* 阳电压表：量程为0～200V，三位半数字显示； 
* 阳电压稳压源：0～200V连续可调； 
* 灯丝电流表：量程为0～2A，三位半数字显示； 
* 灯丝电流稳流源：0～0.8A连续可调； 
* 阳电流表：量程为0～2000uA，三位半数字显示。 

* 采用国标标准接插件手动连接线路； 
* 设计性扩展实验，测定电子荷质比。