KDB-2B型 金属薄膜方块电阻测试仪

KDB-2B为四探针法测量金属薄膜的方块电阻，该方法操作简单，测量。 
仪器特点如下： 
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更。 
数字电压表量程：0—19.999mV  灵敏度：1μV  输入阻抗：1000ΜΩ 
 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) ； 
2、方块电阻测量范围：1×10-5～1.9Ω/□； 
3、电流量程分两档：100mA和1000mA。