描述：单晶少子寿命测试仪
参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

厂商性质
其他
更新时间
2024-09-09
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品牌	其他品牌	产地类别	国产
应用领域	石油

单晶少子寿命测试仪

TR-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

技　术　指　标：

测试单晶电阻率范围	>2Ω.cm
可测单晶少子寿命范围	5μS～7000μS
配备光源类型	波长：1.09μm；余辉<1 μS；闪光频率为：20～30次／秒；闪光频率为：20～30次／秒；
高频振荡源	用石英谐振器，振荡频率：30MHz
前置放大器	放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz
仪器测量重复误差	<±20％
测量方式	采用对标准曲线读数方式
仪器消耗功率	<25W
仪器工作条件	温度： 10-35℃、湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz
可测单晶尺寸	断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器	频宽0—20MHz；电压灵敏：10mV／cm

产品名称：微量水分测定仪
产品型号：SF-5

微量水分测定仪型号：SF-5
　　仪器符合GB/T7600；SH/T0246；GB/T606及采用卡尔—费休法测定样品中水分的有关标准。仪器采用了自动控制电路，电解电流自动跟踪控制，外型结构新颖，增加了过碘指示和仪器故障自动检测功能，从而使该仪器工作更可靠，使用更方便，具有分析速度快（一分钟出结果）、操作简便、精度高、自动性强等特点，广泛应用于石油、化工、电力、铁路、农药、医药、环保等部门。
技术参数
测定方式：  卡尔—费休库仑法
显    示：  5位LED数字显示
读出单位：  μgH2O
电解电流：  0～300mA自动控制
测定范围：  3μg-100mg（H2O）
灵敏阈：  0.1μgH2O
功能指示：  过碘和仪器故障自动检测
准确度：  （不含进样误差）3μg－1mgH2O不大于±0.3%；1mg以上H2O不大于±0.5%
电    源：  AC220V±10% ； 50Hz±5%
消耗功率：  不大于40W
使用环境温度：  5～40℃
使用环境湿度：  ≤85%
主机重量：  4.4kg
外形尺寸：  320mm×270mm×90mm

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