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2017-07-28
2020-07-07
2017-05-17
工业检测显微镜TYV-54X
技术参数
1
平场目镜
大视野WF10XΦ25mm
2
平场分划目镜
WF10X/Φ20mm （0.1格值）
3
无穷远平场长工作距离平场物镜
(放大倍数/数值孔径/工作距离)PL5X/0.10/29.4、 PLL10X/0.25/16、PLL20X/0.40/10.6、PLL40X/0.60/5.4、PLL80X/0.75/4.0
4
总放大倍数
50X-800X
5
三目观察头：
30°倾斜
6
物镜转换器：
五孔带DIC、明暗场插孔
7
粗微调调焦范围：
30mm,粗微动同轴调焦, 微动格值0.002mm
8
载物台：
双层移动平台 尺寸350X310mm 移动范围: 250X250mm 玻璃平台：尺寸268×198mm 移动范围：250×250mm
9
载物台移动：
具有快速手推功能，可实现快速到位
10
偏光装置
检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
11
DIC暗场装置
DIC、暗场插件均可移出光路
12
落射照明：
亮度可调 卤钨灯泡 12V100W 落射照明器带视场光栏、孔径光栏
13
仪器重量
净重35kg 毛重40kg
14
仪器尺寸
仪器尺寸40X50X47（cm） 包装尺寸59X49X53 (cm)
名称
主要技术参数
单位
数量
显微镜主体
台
套
简易偏振装置
目镜
10X
对
分划目镜
10X 0.1mm十字分划板
只
物镜
5X、 10X 、20X、40X、80X
各1
测微尺
0.01mm
块
备用灯泡
12V/100W
滤色片
蓝、绿、磨砂玻璃
片
随机文件
装箱单、合格证、保修卡、说明书
2、选购件：
目镜 15X/Φ17、20X/Φ12.5 50X物镜 摄影摄像装置、图像分析软件
数字式四探针电阻率测试仪型号：SX1944
产品说明 四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。 产品特点 四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 型号SX1944 测量范围电阻率：10-4～105Ω-cm 方块电阻：10-3～106Ω/□ 电阻：10-4～105Ω 可测半导体材料尺寸直径：Φ15～100mm 测量方位轴向、径向均可 数字电压表⑴量程： 200mV ⑵误差：± 0.1% 读数± 2 字 ⑶大分辨力：10μV 显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示 数控恒流源⑴电流输出：直流电流 0 ～ 100mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA ⑶误差：± 0.5% 读数± 2 字 四探针测试探头⑴探 针 间 距： 1mm ⑵探针机械游移率： ± 1.0% ⑶探 针： 碳化钨，Φ 0.5mm ⑷压 力： 0 ～ 2kg 可调 , 大压力约 2kg 电源输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 外形尺寸主机 260mm （长）× 210 mm （宽）× 125mm （高） 备注USB 接口，配软件
TEL：18910534055
1891053405518910534055
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