描述：压杆组合实验台RXD-GL-Ⅱ-2
采用砝码进行加载，经杠杆及传动机传到实验梁上；压杆组合试件受力的变形，通过应变片由电阻应变仪显示，压杆组合试件由7件高弹性钢件组合而成，采用三种连接形式，分别为：铰接，固接，一端铰接一端固接。可测弹性模量和泊松比。可做工程内力结构实验。根据平衡方程可求其力值，利用结点法可求出杆所受的轴力，便于学生比较三种连接形式的受力特点

压杆组合实验台RXD-GL-Ⅱ-2 

采用砝码进行加载，经杠杆及传动机传到实验梁上；压杆组合试件受力的变形，通过应变片由电阻应变仪显示，压杆组合试件由7件高弹性钢件组合而成，采用三种连接形式，分别为：铰接，固接，一端铰接一端固接。可测弹性模量和泊松比。可做工程内力结构实验。根据平衡方程可求其力值，利用结点法可求出杆所受的轴力，便于学生比较三种连接形式的受力特点

压杆组合实验台RXD-GL-Ⅱ-2 

产品名称：手持式四探针测试仪 产品型号：M-3

手持式四探针测试仪型号：M-3

M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。 
仪器成套组成：由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。 
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。  
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入 
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。  
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

  
三、基本技术参数 
1. 测量范围、分辨率

电    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω 
电 阻 率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm 
方块电阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□  
2. 可测材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下： 
直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。停产 
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。. 
测量方位: 轴向、径向均可. 
3. 量程划分及误差等级

产品名称：激光功率计  产品型号：VLP-2000-50W     激光功率计 型号：VLP-2000-50W 性能参数  1． 测量对象：连续激光 脉冲激光 二氧化碳激光ND:YAG等  2． 光谱响应范围：180nm~20μm  3． 大量程：~20W（过量程会导致功率计损坏）  4． 探头敏感面积：Φ18mm  5． 测量不确定度： ±5%  6． 输入电压：AC110-220V 50Hz  7． 功耗：<10W  8． 保修期：1年  注意事项  1.测量过程中请不要按“zero”键，清零工作请在测量前完成。每次开机前会有一个正数值出现，是正常现象。主要是提醒用户要在使用前要按下清零键。  2.探测器吸收体不与任何物体接触，不使用时注意保持探测器吸收体清洁、干燥。  3.请勿尝试测量功率出量程范围的激光，任何人为的损坏不属于保修范围