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详细介绍
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 石油 |
三路可调稳压稳流电源 型号：TC-1718G
详细介绍:
主要功能及特点：
◆低纹波，低噪声 ◆高稳定度，高可靠性
◆双路稳压稳流输出 ◆可串联或并联使用
◆四表头电压、电流值数字显示 ◆双路电流、电压预置输出
◆十圈电位器精细调节输出电压 ◆允许长期在0～40℃满负荷工作
◆自动串联跟踪 ◆比例串联跟踪
◆智能风机自动控制风量 ◆3U高度机箱，方便上架使用
◆教委中标产品
三路可调稳压稳流电源
型号 | TC-1718G-4 | ||
输出（三路） | 输出电压 | 0～35V/0~35V /5V | |
输出电流 | 0～3A/0~3A/0~3A | ||
恒压特性 | 源效应 | 5×10-4+2 mV/5×10-3+5 mV（第三路） | |
负载效应 | 5×10-4+2 mV/5×10-2（第三路） | ||
纹波与噪声（r.m.s） | １ｍＶ/5mV（第三路） | ||
恒流特性 | 源效应 | 20mA | |
负载效应 | 5×10-4+5mA | ||
纹波与噪声（r.m.s） | 5mA | ||
输入电源 | 220V±10％ 50Hz±5％ | ||
预置输出 | 双路预置电压、电流输出 | ||
跟踪方式 | 比例串联跟踪 | ||
冷却方式 | 智能风冷 | ||
显示精度 | 显示方式 | 双路四表头数显V/A | |
DC电压表 | ±1%读数＋6个字 | ||
DC电流表 | ±2％读数＋10个字 | ||
工作温度及湿度范围 | 0～40℃；20～90％RH | ||
储存温度及湿度范围 | -40～60℃ 20～90％RH | ||
仪器可靠性指标 | MTBF（θ）≥5000小时 | ||
外形尺寸 （mm） | 370×210×133 | ||
重 量 （Kg） | 约12Kg | ||
 | 产品名称：智能裂缝监测仪 裂缝监测仪 裂缝检测仪 产品型号：PTS-F50停（LRC-1225） |
智能裂缝监测仪 裂缝监测仪 裂缝检测仪 型号： PTS-F50
PTS-F50智能裂缝监测仪用于长期定点监测并记录在高空以及不易接触结构位置上的重点裂缝变化情况，该监测仪能的连续测量并记录裂缝在一段时间内的变化过程以及外界环境温度的变化值,从而清晰地反映该裂缝的变化趋势.
仪器的内置电池一次可记录长达６个月以上的裂缝变化数据,USB接口随时可下载存储的裂缝宽度值和温度值到手持式PDA或电脑等终端上并由配套软件绘制出该裂缝发展趋势曲线.
性能特点：
1.集裂缝传感器，温度传感器,测量仪和存储器于一体,自带电池一次可保证连续监测时间3个月以上.
2.户外环境设计,密封良好
仪器外壳坚固耐用.一经设置启动后无需人工干预.
3.位移传感器可一次安装到不易到达的区域或高处的裂缝上,其测量/记录部分采用电缆连接到接近地面或易于到的位置,便于日后的参数设置,实时数据查看, 数据下载及电池更换等人工操作.
4.测量/记录部分内置的储存器可长期记录该裂缝的宽度变化数据。
5.标准USB接口方便直接下载记录的数据到手持式PDA或电脑等终端上；简单实用的数据设置，采集和分析软件。
技术规格:
测量范围：±5mm／10mm／ 20mm／30mm，可订制
裂缝位移精度：±0.01mm
温度测量精度：±0.5℃
大记录数为：65536条记录
小采样间隔：1分钟
大采样间隔：24小时
待机时间：大于3个月（采样设置为24小时）
密封标准：IP 65
电缆长度：10米／15米／30米，可订制
供电：6节１.５Ｖ电池
使用温度：-30℃ ～ ±80℃
下载的数据使用随仪器提供的处理软件分析后，电脑上自动绘出该段时间内的裂缝宽度变化以及温度变化曲线。
 | 产品名称：热球式风速仪 手持式风速仪 产品型号：QDF-3A |
热球式风速仪 手持式风速仪型号：QDF-3A
QDF-3A型热球式风速仪 是一种测量风速手持便携式仪器。它具有体积小、功耗低、可靠性高、使用寿命长、指针式显示，直观简洁、长锂电待机等特点。
可广泛用于测量管道、目标环境、气象、暖通空调、环保、节能监控、农业、冷藏、干燥、劳卫、医疗、洁净空间等场合的风速的测量。
QDF-3A型热球式风速仪
测量范围0.05-30m/s
测量误差±5%FS
使用条件温度-10℃-40℃ 湿度≤85%
附加误差测头方向偏差在±15℃时，其指示误差≤±4%
反应时间≤3S
显示方式指针显示
产品特色内置锂电，长待机
保 修 期1年（不包含传感器）
 | 产品名称： 四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪 产品型号：BT-300H |
四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪型号：BT-300H
四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器主要技术指标：
1． 范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，
分辩率为10-6Ω—cm
方块电阻10-3—103Ω /电阻10-6—105Ω
2． 可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3． 测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4． 数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）
2 mV档以上±（0.3%读数+2字）
(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
20mV档以上>108Ω
5． 恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
（3）电流误差：±（0.3%读数+2字）
6．四探针测试探头 （1）探头间距：1mm (2)探针机械游率：±0.3%
(3) 探针：Φ0.5mm
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