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详细介绍
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 石油 |
土壤硬度计TC-TYD-1
本土壤硬度计是利用压力计之理论值Kg/Cm2,直接测量出土壤的硬度值。
对于土壤的透水性，通气性及大型机器作业的土壤性质调查研究，利用此土壤硬度计非常方便准确。
土壤硬度计TC-TYD-1 特点或功能：
土壤硬度计测定方法:
1. 先将欲测量的土壤表面整平，然后将本器*部份 全部插入土壤中，直到 （口） 部份。
2. 垂直順向拔出土壤硬度计，并从表上读取硬度指示值。
3. 读取测值完毕，请旋转从动针旋鈕，使指示表归零。
4. 如果側头內部附着土壤，将会使测量值变为不正确，请逆时针方向旋转（口）部，取下此圆套筒，请清理干净后转至固定位置，即可再次测量。
土壤硬度计技术参数
硬度指示范围:
• 0 ~ 40 mm
• 0 ~ 500 Kg/Cm2
高频光电导少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号： LT-1 1、 用途 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。 2、 设备组成 2.1、光脉冲发生装置 重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ 光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ 红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电流：5A～20A 如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源 频率：30MHz 低输出阻抗 输出功率＞1W 2.3、放大器和检波器 频率响应：2Hz～2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。 3、测量范围 LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ |
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