当前位置:首页  >  产品中心  >  专用仪器  >  专用仪器  >  TC-WSF-J分光测色仪TC-WSF-J
型号:TC-WSF-J
分光测色仪TC-WSF-J

描述:分光测色仪TC-WSF-J
TC-WSF-J分光测色仪是一种性能*、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色,可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。

  • 厂商性质

    其他
  • 更新时间

    2024-09-12
  • 访问量

    591
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域石油

分光测色仪TC-WSF-J  

 

分光测色仪TC-WSF-J  

应用范围 
TC-WSF-J分光测色仪是一种性能*、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色,可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/8。它可以显示可见光波段(380nm~760nm)中物体或液体的反射比与透射比,可给出物体或液体反射色与透射色的光谱曲线,大大方便了对物体色彩的分析。该仪器可广泛用于纺织、染料、印染、涂料、油漆、造纸、建材、食品、印刷等行业。 
  
产品简介

性能指标:

1. 照明条件:d/8
2. 光源:脉冲氙灯
3. 接收器:光电二管阵列,平场光栅
4. 光谱条件:总体响应等价于GB3978标准照明体D65、A、C及10°、2°视场色匹配函数下的三刺激值X、Y、Z
5. 显示方式:电脑显示屏
6. 接口:USB
7. 测量窗口:Φ20mm
8. 电源:AC220V±22V      50Hz±1Hz
9. 波长范围:380nm~760nm    
10.波长总不确定度(nm):1
11.波长重复性(nm):0.2
12.光谱透射比的总不确定度(%):0.5
13.光谱透射比的重复性(%):0.2
14.光谱反射比的总不确定度(%):1.0
15.光谱反射比的重复性(%):0.4
16.仪器的稳定性:ΔY≤0.2
17.仪器的重复性:ΔY≤0.2;  ΔE≤0.02(标准白板,10次测量平均)
18.色度总不确定度:ΔY≤1   Δx,Δy≤0.002
19.表色系统:
(1) 颜色:X、Y、Z;Y、x、y;L*、a*、b*;L、a、b;L*、u*、v*;L*、c*、h*
(2) 色差:ΔE(L*a*b*);ΔE(Lab);ΔE(L*u*v*);ΔL*、ΔC*、ΔH*
(3) 白度:W、T
20.计算机系统:奔腾4及以上
21.软件:WSF-J软件,在Windows XP或2000 环境下工作

 

TC-WSF-J分光测色仪可选配以下测色配色、彩管理系统:
  ①特色配色软件系统:
  ●纺织品配色软件
  ●染料厂拼混配色软件
  ●塑料、色母粒配色软件
  ●涂料调色软件
  ●溶液配色软件
  ●木材染色染料补投软件
  ●Munsell 电子色卡及其应用          
  ②对着色产品的质量控制:
  ●适用于所有对产品颜色有质量要求的行业。在这些行业中,从签定订 
  单 , 到组织生产,检验及交货,质量控制软件已经成为上述行业现代企
  业质量管理过程中的一个*的重要组成部分。
  ●适用于生产着色剂的企业。全面考虑了着色剂生产企业对产品颜色
  质量控制的严格要求。颜色质量控制软件的不断升级更新,永远提供zui 
  新的及现行标准及方法。
  ●适用于大专院校、科研院所。提供学习及研究一切与色度学有关的课题
  的有效工具。
  ③科学地对颜色进行准确预报—计算机配色、修色:
  ●计算机配色技术发展到今日,作为一项成熟的技术,在现代企业中起着
  日益重要的作用。快速地给出准确、合理的配方,以及广泛的配方选择范
  围是人工配色根本*的。
  ●配色软件具有再学习的功能,可充分借鉴专业人员的相关经验及曾经做
  过的大量工作,提供智能配色,给出更实用、更精确的配方。
  ●配色软件提供着色残液的再利用、残剩色母粒的回收利用、不合格染品
  的修色等多项功能,提高企业的生产经营效益。
  ●配色软件的反射及透射配色功能,使计算机配色的应用范围广泛:包 
  括纺织印染业,染料、颜料制造业,塑料着色及色母粒行业、涂料、油墨
  行业,木材加工业 ... 等等与颜色有关的众多行业。

  ④功能强大的颜色配方信息库:
  ●海量存储空间,存储所有有价值的配方及其相关颜色和相关信息;
  ●的查询速度,可在瞬间找出所需颜色的近似配方及相关工艺,
  同时根据使用者的需要,通过即时修色计算给出更接近所需颜色的修正配
  方;
  ●人性化的操作思路,是专业染色技术人员的好帮手。

 

产品名称:半导体导电型号鉴别仪 导电型号鉴别仪 
产品型号:WS-4

半导体导电型号鉴别仪 导电型号鉴别仪型号:WS-4 
WS-3半导体导电型号鉴别仪是快速鉴别硅晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器,测量范围宽,硅材料电阻率从0.1~104Ω*cm。仪器采用进口16位单片IC电路为核心,利用数字采集滤波技术,并用“P”和“N”数码直接显示,因而使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式三探针探头,使用简单,操作方便。在太阳能硅材料分选时,采用整流法对﹤0.1Ω*cm的材料具有声光报警功能,高效快速。 

主要指标1.      测量范围:    硅单晶材料电阻率0.1~104Ω*cm 
2.      可测量材料:  半导体硅棒和硅片、硅碎颗粒 
 3.      显示方式:    P、N直显 
 4.      重参报警功能; 声光 
 5.      设定;          0.1档、0.5档报警 
6.      测试探头:    手持式三探针(高速钢), 
    针尖距2.5mm探针直径1mm.

 

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
Baidu
map