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型号:WS-STC-A
薄膜测厚仪 WS-STC-A

描述:薄膜测厚仪 WS-STC-A
本测厚仪适应于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

  • 厂商性质

    其他
  • 更新时间

    2024-09-13
  • 访问量

    604
详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域石油

薄膜测厚仪 WS-STC-A

产品功能

本测厚仪适应于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

薄膜测厚仪

产品参数

Ø        分度值  0.001mm   量程  0-1mm

Ø        上下测量面为平面时,测量面地试样硬设备听负荷为0.5N到1.0N之间。

Ø        上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50mm时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间.

Ø        测量精度     100um以内          精度1um

100um到250um      精度2um

250um以上          精度3um

薄膜测厚仪 WS-STC-A使用方法

Ø        测试前转动表盘让指针调到零位,并试行按动捍手几次,回零后方可测试。

Ø        使用时按下捏手使测头升起,将被测物件放于上下测头之间。轻放捏手使之接触,此时读数即为衩测试样的厚度。

Ø        为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。

Ø        使用完毕,应将仪器擦净,装入仪器盒,放置干燥处,防止受潮。

 

 

 

 

产品名称:电子束实验仪
产品型号: EB-II

电子束实验仪 型号 EB-II

 

产品介绍:

  该仪器是我厂根据我国教学大纲规定的内容研制的分组实验仪器,通过定量测量来研究电子在各种电场和磁场中运动变化规律。93年根据郑州工业大学物理实验室老师的经验:可在示波管上观察到电子螺旋运动,可做到4个π。这是为珍贵的在其他仪器上得不到的理想图形。

(一)用途及实验内容

  实验一、电偏转-电子束+横向电场。研究电场对电子束的偏转,测量电偏转灵敏度并得出它和加速电压成反比的规律。

  实验二、电聚焦-电子束+纵向电场。了解静电透镜工作原理,测量电子相对折射率,验证电子透镜方程。

  实验三、磁偏转-电子束+横向磁场。研究横向磁场对电子束的偏转,测量磁偏转灵敏度并得出它和加速电压平方根成反比的规律,并测量地球磁场。

  实验四、螺旋运动、磁聚焦~电子束+纵向磁场。研究电子在纵向磁场作用下的螺旋运动,测定电子荷质比。观察磁聚焦现象,验证电子螺旋运动的坐标方程。观察电子螺旋运动:用0.5KVA小自耦调压器(初级220V交流;次级用到0~35V)即够。将一只二管(如IN4007)任一头,接到纵向大线圈上,可在示波管上看到电子的螺旋运动。改变零点可得到较理想的图形。

(二)结构及特点

  仪器由示波管、电源及配置的几组线圈等部分组成。采用组合型结构,对称性高,具有直观,可动手性强、操作方便的特点。采用负高压供电,安全可靠。

  整个仪器采用积木式装入箱内,一仪多用。

(三)主要技术规格

  示波管(8SJ45J或改进型)

  聚焦电压:280~380V

  加速电压:950~1300V

  偏转电压:-50~+50V

  Y轴电偏转灵敏度>0.7mm/V

  X轴偏转灵敏度>0.3mm/mA

  电源:AC220V±5%    50Hz

  消耗功率:50W

  外形尺寸:50×75×205(185)mm

  总重量:9.5kg

  做地球磁场实验托架另配(我厂可供)

 

 

 

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