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型号:HB-C84-Ⅱ
反射率仪 涂料反射测量仪

描述:反射率仪 涂料反射测量仪
2.重复精度:0.3%
3.显示数据与反射光强度成正比
4.仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与y(λ)的乘机

  • 厂商性质

    其他
  • 更新时间

    2024-09-14
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详细介绍
品牌其他品牌产地类别国产

反射率仪 涂料反射测量仪 型号:HB-C84-Ⅱ

技术参数: 1.测量范围:0-100
2.重复精度:0.3%
3.显示数据与反射光强度成正比
4.仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与y(λ)的乘机
5.环境温度:23℃+/-5℃ ,相对湿度<85%
6.输入电源:220V+/-10% 50Hz
详细介绍: JK-C84-Ⅱ型反射率仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行
标准、标准而研制的仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量。
该仪器*符合标准ISO3906-1980(E)、标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、
GB5211.17-88对该仪器的规定要求。
本仪器由探头、主机、标准板(黑白各一块)、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。
探头采用0度照射,漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面时产生
电讯号输入到直流放大器进行放大,并于以读数显示。

 

反射率仪 涂料反射测量仪

 

 

产品名称:钠离子浓度计 钠离子分析仪 钠离子计 钠离子检测仪
产品型号:MP523-02

钠离子浓度计/钠离子分析仪/钠离子计/钠离子检测仪 型号:MP523-02

 

● 符合规范的GLP要求,具有自动校准、自动温度补偿、数据储存、RS232输出、时钟显示、功能设置和自诊断信息等智能化功能。
● 有三种不同的测量模式:稳定显示模式;定时测量模式;连续测量模式。
● 钠电量程1~7 pNa (10-1 ~10-7 mol/L)。
● 配置电:钠离子电,参比电,温度电和三复合pH电。
●配置溶液:钠离子标准溶液,钠电浸泡液,参比电溶液和pH校正溶液。
● 仪器储存10种常用的离子模式可供选择,也可自行设定其它离子(需选购相应的离子电)。
● 可切换四种离子浓度单位:pX、mol/L、mg/L和ppm.
● 自动识别13种pH标准缓冲溶液,有四个系列的标准缓冲溶液可以选择:欧美系列、NIST系列、中国系列和自定义溶液。
● 可设置高纯水pH测量模式和加氨纯水pH测量模式。
● 有EH氧化还原电位测量模式,直接显示相对于标准氢电电位的ORP值。
● 仪器带有的产品序列号。

● 符合IP54防尘防溅等级,仪表插口有硅胶帽密封保护。

 

pH

测量范围

分辨率

准确度

输入电流

输入阻抗

稳定性

温度补偿范围

(-1.999 ~ 19.999)pH

0.1/0.01/0.001 pH

电计:±0.002 pH,配套:±0.01 pH

≤1×10-12 A

≥3×1012 Ω

±0.002 pH/3h

(0 ~ 100)℃(自动或手动)

mV

测量范围(mV/ORP/EH)

分辨率

准确度

-1999.9mV ~ 0 ~ 1999.9mV

0.1mV

±0.03% FS

钠离子

测量范围

显示单位

准确度

输入电流

输入阻抗

稳定性

温度补偿范围

电计:(0.00~9.00)pNa;配套:(1.00~8.00)pNa

pNa、mol/L、mg/L、ppm

± 0.04 pNa

≤2×10-12 A

≥1×1012 Ω

±0.01 pNa/3h

(0 ~ 50)℃(自动或手动)

温度

测量范围

分辨率

准确度

-10℃~ 110℃

0.1℃

5~ 60℃范围:±0.4℃  其余范围:±0.8℃

其他技术参数

数据储存

储存内容

电源

通讯接口

尺寸和重量

质量和安全认证

900组

测量值编号、测量值、温度值、ATC或MTC状态、测量日期、测量时间

DC9V/300mA

RS232

160 × 190 × 70mm/880g

ISO9001:2008, CE和CMC

工作条件

环境温度

环境湿度

IP等级

5 ~ 35 ℃(0.01级) 15 ~ 30 ℃(0.001级)

≤75%

IP54  防尘防溅

 

 

 

产品名称: 四探针 四探针测试仪 薄膜电阻测定仪
产品型号: SZT-2A


 四探针 四探针测试仪 薄膜电阻测定仪 型号: SZT-2A 
1.SZT-2A 主机采用的良好电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。 
2.屏幕采用液晶显示(一代为只有数码管显示)。 
3.匹配电脑接口及软件,让操作简便明了化(可直接连接电脑,电脑进行自动运算根据输入厚度,自动比照并修正系数,使被测结果更精确,数据可储藏或删除,利于使用方保存记录)。 
4.二代的测试架采用自动传感装置,接近被测物体时实行自动减速,避免了被测物体的损耗和探头的磨损(于国内市场上任何一款同类产品的测试架,老一代为手动)。  5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时,标准系数为机器自带自调,无需另外手工调整,省去了原仪器的诸多麻烦。 
6. 本仪器的zui小分辨率为0.1mΩ 
7.主机带有手自一体功能 
8.测试探头为钨针,市场上多为高速钢针。 
9.每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。 
10.整机测量标准不确定度:≤ 2%(国内其它厂家误差为≤ 5% ) 
11. 技术参数: 
1). 测量范围: 
电阻率:10的-4次方~10的5 次方Ω-cm 
方块电阻:10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□ 
电阻:10的-4次方 ~10的5 次方Ω 
2). 可测半导体材料尺寸 
直径:5mm-130mm 
长度:≤400mm 
3). 测量方法: 
轴向、断面均可 
4). 显示方式:41/2,数显,性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。 
5). 恒流源: 
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。 
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA 
(3) 误差:±0.5%读数±1个字 
6).四探针测试探头 
(1) 探针间距:1mm 
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% 
7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W 
8) SZT-2A 分为带电脑接口和不带电脑接口的两种,带接口功能为当硅片的厚度<1mm时自动修正读数,使得测量出的数据准确率为100%,被测试的数据自动生成表格并可以打印,可以随时保存和删除.

 

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