描述：彩色亮度计 亮度仪
ZY-XYL-VI型彩色亮度计采用新一代全数字测量技术，不包含任何模拟部分，克服了现有彩色亮度计难以避免的零点漂移问题，具有数字系统的强抗干扰能力和高转换精度，同时仪器采用了大动态范围的数字X（λ）Y（λ）Z（λ）传感器，消除了传统 彩色亮度计的量程切换误差。

彩色亮度计 亮度仪 型号： ZY-XYL-VI

ZY-XYL-VI型彩色亮度计采用新一代全数字测量技术，不包含任何模拟部分，克服了现有彩色亮度计难以避免的零点漂移问题，具有数字系统的强抗干扰能力和高转换精度，同时仪器采用了大动态范围的数字X(λ)Y(λ)Z(λ)传感器，消除了传统 彩色亮度计的量程切换误差。
    ZY-XYL-VI型彩色亮度计功能强大，可用于色品坐标x、y,亮度Y和相关色温T_c测量，可对应于不同的光源进行精密色度校准，使其针对不同对象的测量具有高的检测精度。XYL-VI型彩色亮度计采用瞄准式测量方法，通过人眼直接目视瞄准目标物、调节焦距、变换视角等方法对目标物进行测量，减少测量过程中的人为或外界误差。
   XY- XYL-VI型彩色亮度计内包含RS232接口，由计算机软件定标，同时可用于计算机远程在线监控应用，系统稳定性高

彩色亮度计 亮度仪 特点:

• 技术：消除距离误差

• 可以实现快速测量

• 一级亮度标准

• 系统无零点漂移

• 无换挡误差

• 全量程测量，精度高

• 用:

       快速测量白炽灯，卤素灯，节能灯，金卤灯，LED，LCD等各种光源亮度，相关色温等颜色参数 。各种显示屏测量，道路照明测量，物体表面亮度测

• 技术指标：

  • 亮度特性Y
    Y(λ)传感器光谱响应达一级标准
    动态范围：10-1,000,000cd/m²
    测量精度：优于±5%
    分辨率：0.01cd/m²
    示值误差：优于±5%

  • 光学系统测量视场：1^o

  • 色品坐标x、y、u、v(测量条件：亮度>10cd/m²)
    测量精度：x、y优于±0.002(标准A光源，100cd/m²)
    重复性：x、y优于±0.0005(标准A光源)

  • 相关色温Tc(测量条件:亮度>10cd/m²)
    动态范围：1350－25000K
    分辨率：1K
    测量精度：优于±20K(标准A光源,100cd/m²)

  • 温度系数：-0.1%/℃

  • 刷新频率：1次/s(≥10cd/m²); 1次/3s(<10cd/m²)

  • 测量距离0.7m～∞

  • 显示：128×64图形LCD显示

  • RS232接口，可用于计算机远程监控

  • 具有保持功能

  • 供电电源：9V电池或外接本公司原装直流变换器

  • 主机尺寸：135L×72W×130H(mm)

  • 主机重量：2kg

  • 保修期:1年

  • 随机附件：电池、光盘、通讯线和说明书

产品名称：声波测厚仪 产品型号：RTY-098

声波测厚仪 型号：RTY-098

应用范围 
  RTY-098声波测厚仪采用声波测量原理,适用于能使声波以一恒定速度在其内部传播,并能以其背面得到反射的各种材料厚度的测量,可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。   
性能指标 
 测量范围： 0.75~300.0mm(由探头决定) 
精确度: ±(0.5%H+0.1)mm 
管材测量下限(钢)：  φ20mm×3.0mm(5MHZ)
 φ15mm×2.0mm(10MHZ) 
 声速调节范围：  1000m/s~9999m/s 
已知厚度反测声速： 
 测量范围：  1000m/s~9999m/s  
建议试块厚度 ≥20mm（声速测量精度为±5%） 
使用环境温度： 0℃~40℃  
电源： 二节5号电池 
外形尺寸：  150mm×73mm×32mm 
重量： 400g  

产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号： SZT-I 停产

数字式四探针测试仪型号：SZT-I
SZT-I型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。 
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。 
技术参数： 
1． 测量范围： 
电阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方块电阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
电阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
导电类型鉴别：电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2． 可测半导体材料尺寸 
直径：φ15~100 mm 
长度：≤400mm 
3． 测量方法： 
轴向、断面均可 
4． 显示方式：31/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。 
5． 恒流源： 
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 误差：±0.5%读数±2个字 
6.四探针测试探头 
(1) 探针间距:1mm 
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0% 
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W