我们相信好的产品是信誉的保证!
品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
---|
导热系数测定仪(护热平板法)型号:TR-DRH-II
本仪器基于单向稳定导热原理,当试样上、下两面处于不同的稳定温度下,测量通过试样有效传热面积的热流及试样两表面间温差和厚度,计算导热系数。满足了材料检测研究部门对材料导热系数的高精度测试要求。仪器参考标准:GB/T3399-1982《塑料导热系数试验方法,护热平板法》、GB/T3139-2005(纤维增强塑料导热系数试验方法)(玻璃钢导热系数试验方法)、GB/T10294-2008(热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法),和标准ISO/DIS 8302,也符合GB/T10801(隔热用聚苯乙稀泡沫)以及建设部zui近公布的《聚氨酯硬泡墙外保温工程技术导则》(2008年4月13日)中规定的对聚氨酯硬泡材料导热系数的测量。
导热系数测定仪(护热平板法) 主要测试塑料、玻璃、纤维、建筑保温材料、橡胶、泡沫等有机、无机材料的匀质板状、胶状、颗粒、粉状、液态状材料的导热系数。广泛应用在大中院校,科研单位,质检部门和生产厂的材料分析检测。
二、主要技术性能
1、应用范围
本仪器适用于测定干燥或不同含湿状况下匀质板状、胶状、液态状材料的导热系数。导热系数范围: 0.010--3W/m.K
2、仪器提供了对实验温度实现可控状态下的测试,并可达到zui高温度250度。
3、仪器实现数字化测温,精度优于0.2级。
4、电源:220V 50HZ
5、测量结果准确度:2%
6、计量加热功率: 35W+1%
7、可连接上位机实际计算机自动测试,并实现数据打印输出。
(护热平板法)
8、试样尺寸:
100*100*(5-70)mm ,
200*200*(5-70)mm ,
300*300*(5-70)mm ,
600*600*(5-70)mm ,
产品名称:新型二氧化碳检测仪 二氧化碳检测仪 二氧化碳测试仪 产品型号:EM-21 |
新型二氧化碳检测仪 二氧化碳检测仪 二氧化碳测试仪 型号:EM-21
TEM-21新型二氧化碳检测仪 特点与功能
EM-21型便携式二氧化碳检测报警仪是一款个人携带型二氧化碳检测并具有声光报警的仪器,仪器采用双波束红外技术,
▲ 测量精度稳定
▲ 免维护,无须校准
▲ 并具有长的使用寿命
▲ 并可进行声光报警
▲操作简单明了
▲体积小、携带方便
▲精度高、寿命长
EM-21新型二氧化碳检测仪 持术参数
测试气体 二氧化碳(CO2)
测定原理 双波束红外测量原理
测试范围 0~50000ppm CO2
分辨率 1ppm
指示精度 ±5%±0.01%CO2
响应时间 < 60秒
工作温度范围 -5 ~ 40 ℃
相对湿度 ≤98%
传感器使用寿命 ≥5年
满充电仪器连续工作时间 >10小时
外形尺寸 105mm×60mm×30mm
适用于煤矿井下、市政、化工、环保现场等多种场合,检测现场环境中二氧化碳气体浓度
产品名称:瘦肉精检测仪 产品型号: RT-1000 |
瘦肉精检测仪 型号:GRT-1000
术指标
1.对以下胶体金检测卡进行定量定性分析:克伦特罗、莱克多巴胺、沙丁胺醇、β-激动剂七合一、三聚氰胺、
2.全铝合金键盘便携,适用于各种恶劣环境,利于现检测
3.条形码自动识别功能:通过扫描条码,自动显示检测项目
5.指纹识别功能:通过指纹识别,确保送检及检测信息的准确性
硬件参数:
1.单通道通道自动读取检测卡数据
2.液晶显示屏尺寸 14 英寸
3.无线鼠标
4.GPRS DTU 工业无线发射模块
5.800dpi 彩色条码扫描仪;
6.实际扫描区域:216mm*150mm;
7.接口:USB2.0*2,网络接口;
8.外形尺寸: 500mm*350mm*200mm;
9.净重:6.0Kg;
工作环境:
1.环境温度:-15℃~60℃;
2.相对湿度:小于 90%;
3.大气压:70kPa~106kPa;
4.电源要求:AC 220V 50HZ
产品名称:数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪 产品型号:LT-200 |
数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪 晶体少子寿命测试仪型号:LT-200
LT-200数字式太阳能级硅晶体少子寿命测试仪简介
1. 仪器应用范围及说明
本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次全国十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟可靠的测试方法,特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,因此制样特别简便。
昆德公司数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点:
可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光,直接对切割面或研磨面进行测量,仪器可按需方提供的有标称值的校准样品调试寿命值。
1.1 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命,表面无需抛光、钝化。
1.2 液晶屏上直接显示少子寿命值,同时在线显示光电导衰退波形。
1.3 配置的红外光源:0.904~0.905μm波长红外脉冲激光器,光穿透硅晶体深度较浅≈30μm,但光强较强,有利于测量低阻太阳能级硅晶体少数载流子体寿命,脉冲功率30W。
1.4 专门为消除陷进效应增加了红外低光照。
1.5 测量范围宽广
测试仪可直接测量:
a、研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω•cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。
b、抛光面:电阻率在0.5~0.01Ω•cm范围内的硅单晶、锗单晶厚度小于1mm的抛光片。
2. 设备技术要求及性能指标
2.1 少子寿命测试范围:0.5μs~6000μs
2.2 样品的电阻率范围:ρ﹥0.1Ω·cm(非回炉料)
2.3 测试速度:1分钟/片
2.4 红外光源波长: 0.904~0.905μm
2.5 高频振荡源:用石英谐振器,振荡频率:30MHZ
2.6 前置放大器,放大倍数约25,频宽2HZ-2MHZ
2.7 可测单晶尺寸:断面竖测:
直径25mm-150mm;厚度2mm-500mm
纵向卧测:直径5mm-20mm;长度50mm-200mm
2.8 测量方式:采用数字示波器直接读数方式
2.9 测试分辨率:数字存储示波器zui小分辨率0.01μs
2.10 设备重量:20 Kg
2.11 仪器电源:电源电压类型:单相210~230V,50Hz,带电源隔离、滤波、稳压,不能与未做保护措施的大功率、高频设备共用电源。