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饲料水分测定仪型号:RE-FD-H1
饲料水份仪是引进*传感器在国内推出的高性能、数字化水分测量仪器。仪器采用高周波原理,数字显示,传感器与主体合为一体,设有多个档位用来测量水分。该仪器测量水分范围宽、精度高、显示清晰、测量迅速、性能稳定、指标可靠,而且体积小、重量轻,可随身携带在现场快速检测,使用简单方便。
1、进口芯片、传感器。
2、*的传感器设计及制作方法有出一般的穿透能力。
3、专有的传感器技术较宽的工作范围,可插入测量,快速显示。
4、性能稳定、品质优良。
5、便携式仪表外壳为专有设计。
6、仪表设计精巧、结构紧凑。
1、测量水分范围:0~80%
2、分辨率:0.1%
3、响应时间:1秒
4、显 示:LCD液晶数字显示
5、探针长度:200mm 、600mm
6、电源:9V(6F22型)积层电池一节
7、体 积:160×60×27(mm)
8、重 量:200克
饲料水分测定仪
产品名称:台式数字多用表 数字多用表 产品型号:MS9803R |
台式数字多用表 数字多用表 型号:MS9803R
商品描述:
特点:
4000计数,数字模拟条显示
条图42段,字高18mm
手动/自动量程
数据保持
Z大/Z小值、相对测量
交流电压、电流真有效值测量
背景光
ADP测量:400mV±0.3%
10 DIGIT/1mV DC
通断测试
二管测试
交直流电两用
性能指标:
直流电压:400m/4V/40/400/1000V±0.3%
交流电压(真有效值):4/40/400/750V±0.8%
直流电流:4/40/400mA±0.8%,10A±1.5%
交流电流(真有效值):4/40/400mA±1.5%,10A±2.0%
电 阻:400/4K/40K/400KΩ ±0.5 %,4MΩ±1.0%,40MΩ ±0.5%
电 容:4n/40n/400n/4u/20uF±2.0 %,20uF~40uF±5.0%
频 率:100/1K/10K/100K/600KHz±0.1%
hFE:1~1000
二管测试
通断测试
数据保持
Z大/Z小记录
相对显示
自动量程
背 景 光
RS232C电脑接口(M9803R)
产品名称:手持式四探针测试仪 产品型号:M-3 |
手持式四探针测试仪型号:M-3
M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重:≤0.3kg
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
量程(Ω-cm/□) | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
电阻测试范围 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
电阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
电 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω
电 阻 率: 0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm
方块电阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。停产
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级