描述：手持式温度计
手动开关，自动断电
·℃/℉转换
·温度范围：-40℃-200℃
·温度测量精度：±1℃（0-100℃）/±1.8℉（-32-212℉）其他±2℃／±3.6℉
·一节SR44电池，可使用12个月

手持式温度计 型号 ：TR-GM03

产品特点：
手持式温度计·手动开关，自动断电 
·℃/℉转换 
·温度范围：-40℃-200℃ 
·温度测量精度：±1℃(0-100℃)/±1.8℉(-32-212℉)其他±2℃／±3.6℉ 
·一节SR44电池，可使用12个月 
·LCD液晶显示清楚易读。 
·不锈钢感温头，易于清洁，配有特制固定钢夹，便于高温测量
·外形尺寸：155×35×26(mm)   
·重量约18克
·广泛应用于厨房、野外烧烤、牛奶、饮料、水、空气等的测量，以及工业和实验室的普通测量

产品名称：防爆数码相机/防爆相机 产品型号：Toughpix2302xp 英国

防爆数码相机/防爆相机 型号：Toughpix2302xp

简单描述：  
Toughpix2302xp防爆数码相机，通过ATEX防爆认证，可以用在1类煤矿区域  
自带强光闪光灯和红眼减少等功能，这款机器在恶劣，黑暗的环境（黑暗的煤矿井下）可清楚的拍到照片。 
Toughpix2302xp防爆数码相机可拍照，录像。 


技术参数： 

像素 
500万 
图片格式JPEG 
录像分辨率640X480at30fps 
录像格式AVI 
闪光模式开，关，自动 
定时器2s,5s,10s 
液晶屏尺寸61mm/2.4* 
倍数6倍 
闪光模式开，关，自动 
情景模式自动，运动，夜间，背景，风景，背光 
白平衡自动，白天，多云，灯光 


防爆证号Sira08ATEX1293X 
防爆类型0518I M2G/ EX D I Mb 
环境温度-20摄氏度+50摄氏度 
图片传输高速USB（仅在安全区域） 
内存4G 
像素500万 
机身材料防静电，电镀铝 
镜头和液晶屏材料防爆玻璃 
重量1.5Kg 
IP等级IP54 
电池类型防爆，可拆卸，可充电电池 
电池镍氢电池 
电池容量1100mAH

产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号： ST2253

数字式四探针测试仪 型号： ST2253 
概述   
      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！ 
     
    探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
     
    测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头（选配其一或加配全部） 
    (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高） 
   净   重：≤2.5kg